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您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 環(huán)境溫度和大氣壓力對(duì)紅外線氣體分析器檢測(cè)過(guò)程中的影響 PROUCTS LIST
紅外線氣體分析器檢測(cè)過(guò)程需在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅外 光源的恒定,影響紅外輻射的強(qiáng)度,影響測(cè)量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度,還將直接影響檢測(cè)器的正常工作。如果溫度大大超過(guò)正常狀態(tài),檢測(cè)器的輸出阻抗下降,導(dǎo)致儀器不能正常工作,甚至損壞檢測(cè)器。
紅外分析器內(nèi)部一般設(shè)有溫控裝置及超溫保護(hù)電路,即使如此,有的儀器示值特別是微 量分析器,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對(duì)檢測(cè)的影響,在夏季環(huán)境溫度較高時(shí)影響尤為明顯。 在這種情況下,需改變環(huán)境溫度,設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。日常運(yùn)行時(shí),若無(wú)必要,不要 輕易打開(kāi)分析器箱門, 一旦恒溫區(qū)域被破壞,需較長(zhǎng)時(shí)間才能恢復(fù)。
大氣壓力即使在同一個(gè)地區(qū)、同一天內(nèi)也是有變化的。若天氣驟變時(shí),變化的幅度較 大。大氣壓力的這種變化,對(duì)氣樣放空流速有直接影響。經(jīng)測(cè)量氣室后直接放空的氣樣,會(huì) 隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發(fā)生變化,從而造成附加誤差。對(duì)一些微量分析或測(cè) 量精確度要求很高的儀器,可增加大氣壓力補(bǔ)償裝置,以便消除這種影響。對(duì)于中間量程 (如測(cè)量范圍90%~100%)的紅外分析器,壓力變化不但對(duì)靈敏度有影響,對(duì)“零點(diǎn)"也 有影響,必須配置大氣壓力補(bǔ)償裝置。